MS 3032-1

Brief

本課程探討並量測材料的基本物理性質,其中包括講解分析儀器相關原理以及 量測標準樣品並引導學生思考相關領域的議 題。

Description

● 課程說明(Course Description) 材料科學旨在探討材料性質、功能與其結構成分，以及製程過程間的關係。材料分析，涵蓋了對材料性能的各 式測試方法及對材料結構的檢測技術，是材料科學研究發展不可或缺的工具。本課程從量測材料的基本物理性 質出發，並探討不同材料之物理性質差異。其中課程包括各種分析儀器相關原理講解以及標準樣品量測，並引 導學生思考相關領域的議題。 ● 指定用書(Text Books)： 以實驗講義電子檔為主。 ● 參考書籍(References) 1. L. Solymar and D. Walsh, “Electrical Properties of Materials, 7th Edition”, Oxford (2004) 2. Mark Fox, “Optical Properties of Solids”, Oxford (2001) 3. G. S. Nolas, J. Sharp and H. J. Goldsmid, “Thermoelectrics: Basic Principles and New Materials Developments”, Springer (2013) 4. J. Goldstein, et al., Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Kluwer Academic, Plenum Publishers (2003) 5. Ludwig Reimer, “Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis, Second Edition”, Springer (2010) 6. A. Christy, Y. Ozaki, and V. Gregoriou, “Modern Fourier Transform Infrared Spectroscopy”, Elsevier (2001) 7. 汪建民，材料分析Materials Analysis，中國材料科學學會 (2005) ● 教學方式(Teaching Method) 1.以分組方式進行9週實驗操作（每組3-5人, 共9組） 2.實驗講解以投影片或講義方式進行 ● 教學進度(Syllabus) 實驗內容主要包括（開學後可能會依儀器狀況微調）： 1. 表面形貌分析：α-step（膜厚測量儀）、AFM（原子力顯微鏡）、接觸角量測 2. 光學特性：UV-Vis（紫外光可見光譜儀）、FTIR（傅立葉轉換紅外光譜儀）、PL（螢光光譜儀） 3. 電學特性：四點探針、I-V、熱電效應Seebeck係數量測。 4. 磁學特性：VSM（振動樣品磁力計）磁滯曲線量測、霍爾效應量測。 5. 微結構分析：SEM（掃描式電子顯微鏡）、TEM（穿透式電子顯微鏡） ● 成績考核(Evaluation)：出席率以及課堂表現：15%；實驗報告：50%；期末考：35 %

Prerequisites

Timetable

Scores

Average Percentage 90.12

Std. Deviation 8.15

Remarks

物性實驗(物性實驗、陶瓷實驗擇一修習)

Restrictions

限材料系大學部3年級4年級華班

Compulsory

Elective

Cross Discipline

First Specialization

Second Specialization